電磁式膜厚計和渦流式膜厚計的測量原理及特點

電磁膜厚計和渦流膜厚計測量金屬涂層的厚度。電磁式膜厚計用于測量鐵等磁性金屬鍍層的厚度，渦流式膜厚計用于測量鋁、銅等有色(導電非磁性)金屬的厚度。

使用非常方便，只需將探頭輕觸測量位置即可立即測量膜厚。與超聲波檢測不同，不需要使用耦合劑。由于其尺寸方便，適合戶外和高處檢查。

另一方面，如果基材是木材、混凝土、塑料、玻璃等，則無法測量涂層的厚度。由于它測量的是探針（傳感器）與基材之間的距離，因此它受到涂層表面狀況（粗糙度）和探針粘附程度的影響。另外，由于是接觸式，因此不適合工廠的自動測量。

電磁膜厚計（電磁感應式）

電磁式膜厚計（電磁感應式）是利用探頭內的初級線圈產生的磁通量根據膜的厚度而改變次級線圈中感應的電流的原理來測量膜厚的。
當次級線圈接收初級線圈產生的磁通量時，如果磁通量范圍內有磁性材料（鐵等磁性材料），磁通量分布就會發生變化，從而在次級線圈中產生感應電流。 會改變。磁通量分布的變化也會根據初級線圈和磁性材料之間的距離而變化，因此通過測量感應電流的變化，可以測量到磁性材料的距離（膜厚）。

在電磁感應型中，基材必須是鐵等磁性材料，涂層必須是樹脂或鋁等非磁性材料。

在初級線圈中產生恒定的磁通量。
磁通量的狀態根據距磁性基板的距離（膜厚）而變化，因此磁通量的變化由次級線圈檢測并顯示為膜厚。

渦流膜厚計（渦流式）

渦流膜厚計（渦流式）利用初級線圈的磁通量在導體內部產生的渦電流量根據導體與初級線圈之間的距離而變化的事實來測量膜厚。
當初級線圈中產生的磁通量到達導體時，導體內部會產生渦流（感應電流）。當由該渦流產生的磁通通過次級線圈時，在次級線圈中產生電動勢。導體中產生的渦電流的量根據初級線圈與導體之間的距離而變化，并且由于渦流產生的磁通量而在次級線圈中產生的電動勢也根據與導體的距離而變化。 去做。因此，可以通過測量電動勢來測量到導體的距離（膜厚）。

在初級線圈中產生恒定的磁通量。當磁通量到達基板時，會產生渦流（感應電流）。
由于渦流的量根據初級線圈和基板之間的距離（膜厚）而變化，因此在次級線圈中檢測到渦流產生的磁通量并顯示為膜厚。